Lézerrel kezelt szilícium felületek vizsgálata mikroszkópiai és spektroszkópiai ellipszometriai mérésekkel

Gárdián, Anett Zsuzsanna (2013) Lézerrel kezelt szilícium felületek vizsgálata mikroszkópiai és spektroszkópiai ellipszometriai mérésekkel. Masters, Szegedi Tudományegyetem.

	Text 2013_Gárdián_Anett_Zsuzsanna_GAAQABT_SZE_SZ.pdf - Thesis Hozzáférés joga: SZTE designated computers only Download (3MB)
	Text 2013_gardian_anett_biralat.pdf - Review Hozzáférés joga: Repository staff only Download (1MB)

English title

Microscopic and spectroscopic ellipsometric investigations on laser processed silicon surfaces

Institution

Szegedi Tudományegyetem

Faculty

Faculty of Science and Informatics

Department

Optikai és Kvantumelektronikai Tanszék

Discipline

Natural Sciences

Specialization

fizika

Supervisor(s)

Item Type:	Thesis (Masters)
Subjects:	01. Natural sciences 01. Natural sciences > 01.03. Physical sciences
Depositing User:	TTK szerkesztő
Date Deposited:	2015. Mar. 17. 18:30
Last Modified:	2025. Sep. 30. 10:57
URI:	https://diploma.bibl.u-szeged.hu/id/eprint/48458

Actions (login required)

View Item