Lézerrel kezelt szilícium felületek vizsgálata mikroszkópiai és spektroszkópiai ellipszometriai mérésekkel

Gárdián, Anett Zsuzsanna (2013) Lézerrel kezelt szilícium felületek vizsgálata mikroszkópiai és spektroszkópiai ellipszometriai mérésekkel. ['eprint_fieldopt_thesis_type_master' not defined] thesis, Szegedi Tudományegyetem.

[thumbnail of 2013_Gárdián_Anett_Zsuzsanna_GAAQABT_SZE_SZ.pdf]Text
2013_Gárdián_Anett_Zsuzsanna_GAAQABT_SZE_SZ.pdf - Thesis
Restricted to SZTE designated computers only

Download (3MB)
    [thumbnail of 2013_gardian_anett_biralat.pdf]Text
    2013_gardian_anett_biralat.pdf - Review
    Restricted to Repository staff only

    Download (1MB)
      Item Type: Thesis (['eprint_fieldopt_thesis_type_master' not defined])
      English title:Microscopic and spectroscopic ellipsometric investigations on laser processed silicon surfaces
      Institution:Szegedi Tudományegyetem
      ['eprint_fieldname_faculty' not defined]:Faculty of Science and Informatics
      Department:Optikai és Kvantumelektronikai Tanszék
      ['eprint_fieldname_specialization' not defined]:fizika
      Discipline:Natural Sciences
      Supervisor(s):
      Supervisor
      Supervisor scientific name label
      Email
      EHA
      Tóth, Zsolt
      tudományos főmunkatárs
      UNSPECIFIED
      UNSPECIFIED
      Füle, Miklós
      egyetemi docens
      UNSPECIFIED
      UNSPECIFIED
      Subjects:01. Natural sciences
      01. Natural sciences > 01.03. Physical sciences
      Depositing User:TTK szerkesztő
      Date Deposited:2015. Mar. 17. 18:30
      Last Modified:2025. Sep. 30. 10:57
      URI:https://diploma.bibl.u-szeged.hu/id/eprint/48458

      Actions (login required)

      View Item
      View Item