Gárdián, Anett Zsuzsanna (2013) Lézerrel kezelt szilícium felületek vizsgálata mikroszkópiai és spektroszkópiai ellipszometriai mérésekkel. Masters, Szegedi Tudományegyetem.
![[thumbnail of 2013_Gárdián_Anett_Zsuzsanna_GAAQABT_SZE_SZ.pdf]](https://diploma.bibl.u-szeged.hu/style/images/fileicons/application_pdf.png) |
PDF
2013_Gárdián_Anett_Zsuzsanna_GAAQABT_SZE_SZ.pdf Hozzáférés joga: SZTE designated computers only Download (3MB) |
English title
Microscopic and spectroscopic ellipsometric investigations on laser processed silicon surfaces
Institution
Szegedi Tudományegyetem
Faculty
Faculty of Science and Informatics
Department
Optikai és Kvantumelektronikai Tanszék
Discipline
Specialization
Supervisor(s)
Supervisor
Supervisor scientific name label
Email
EHA
Tóth, Dr. Zsolt
tudományos főmunkatárs
UNSPECIFIED
UNSPECIFIED
Füle, Dr. Miklós
egyetemi docens, SZTE JGYPK Általános és Környezetfizikai Tanszék
UNSPECIFIED
UNSPECIFIED
| Item Type: | Thesis (Masters) |
|---|---|
| Subjects: | 01. Natural sciences |
| Depositing User: | TTK szerkesztő |
| Date Deposited: | 2015. Mar. 17. 18:30 |
| Last Modified: | 2015. Mar. 20. 15:31 |
| URI: | https://diploma.bibl.u-szeged.hu/id/eprint/48458 |
Actions (login required)
 |
View Item |
