Benes, Botond (2013) Félvezető kristályok nanoméretű hibáinak kimutatására szolgáló fényszóráson alapuló mikroszkóp optikai érzékenységének vizsgálata. ['eprint_fieldopt_thesis_type_master' not defined] thesis, Szegedi Tudományegyetem.
![[thumbnail of 2013_benes_botond.pdf]](https://diploma.bibl.u-szeged.hu/style/images/fileicons/text.png "2013_benes_botond.pdf")
Text2013_benes_botond.pdf - Thesis
Restricted to SZTE designated computers only
Download (16MB)
Text2013_benes_botond_biralat.pdf - Review
Restricted to Repository staff only
Download (3MB)
| Item Type: | Thesis (['eprint_fieldopt_thesis_type_master' not defined]) |
|---|---|
| English title: | Examination of the optical sensitivity of a light scattering microscope used to detect nano-sized defects in semiconductor crystals |
| Institution: | Szegedi Tudományegyetem |
| ['eprint_fieldname_faculty' not defined]: | Faculty of Science and Informatics |
| Department: | Optikai és Kvantumelektronikai Tanszék |
| ['eprint_fieldname_specialization' not defined]: | fizikus |
| Discipline: | Natural Sciences |
| Supervisor(s): | Supervisor Supervisor scientific name label Email EHA Tóth, Zsolt tudományos főmunkatárs UNSPECIFIED UNSPECIFIED |
| Subjects: | 01. Natural sciences 01. Natural sciences > 01.03. Physical sciences |
| Depositing User: | TTK szerkesztő |
| Date Deposited: | 2025. Oct. 07. 13:17 |
| Last Modified: | 2026. Feb. 02. 15:21 |
| URI: | https://diploma.bibl.u-szeged.hu/id/eprint/47889 |
Actions (login required)
- View Item
